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作为专注于电子测试丈量领域的综合服务商 ,,,,,,,,7790必发集团公司拥有专业化营销及手艺服务团队 ,,,,,,,,依附着多年应用集成行业服务履历 ,,,,,,,,主要面向海内高速增添的战略新兴工业 ,,,,,,,,提供周全的测试应用系统集成和专业咨询服务。。。。。

IGBT与三代半导体SiC双脉冲测试计划

宣布时间:2022-04-06 品牌:泰克(Tektronix) 浏览量:9439

计划简介:日前 ,,,,,,,,基于SiC和GaN的第三代半导体手艺蓬勃生长 ,,,,,,,,其对应的分立器件性能测试需求也随之而来。。。。。其较高的dv/dt与di/dt给性能测试带了不少难题。。。。。泰克的TIVP系列光隔离探头 ,,,,,,,,以其优越的160dB共模抑制比 ,,,,,,,,超低的前端电容 ,,,,,,,,富厚的毗连方法 ,,,,,,,,搭配便捷的AFG31000双脉冲输出功效 ,,,,,,,,加速三代半导体测试流程。。。。。

 


 

三代半导体由于其宽禁带所带来的 ,,,,,,,,低驱动电压 ,,,,,,,,低开关消耗等特点 ,,,,,,,,有着光伏 ,,,,,,,,风电 ,,,,,,,,特高压传输 ,,,,,,,,储能 ,,,,,,,,新能源汽车等普遍的应用市场

使用TIVP光隔离测试系统以及AFG31000助力SiC器件测试

作为主要的开关器件 ,,,,,,,,三代半导体也延续了以往的IGBT测试历程中需要思量的主要参数 ,,,,,,,,如开关 ,,,,,,,,导通 ,,,,,,,,关断情形下的电压电流以及消耗等。。。。。除了上下管Vgs测试以外 ,,,,,,,,即是双脉冲测试 ,,,,,,,,它主要用以权衡开启参数 ,,,,,,,,关闭参数 ,,,,,,,,反向恢复参数等

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双脉冲测试中差别部分器件的事情状态:

 

  1. 初始长脉宽 ,,,,,,,,在负载电感器中建设起电流 ,,,,,,,,最大值抵达所要求的电流值
  2. 关断 ,,,,,,,,在diode中爆发电流 ,,,,,,,,该电流与电感电流一致 ,,,,,,,,因而整体体现为电流零位
  3. 窄脉冲 ,,,,,,,,由于diode的恢复 ,,,,,,,,会在起始位置造成电流过冲 ,,,,,,,,故爆发尖峰

 

在测试历程中 ,,,,,,,,Gate驱动电压 ,,,,,,,,要求为两个一连脉宽可调的脉冲串。。。。。一样平常需要专门设计驱动模??????? ,,,,,,,,并对其对应的功效举行编辑设计 ,,,,,,,,本钱较高 ,,,,,,,,且参数修改操作繁琐重大。。。。;;; ;;蛘呤褂肁FG加隔离驱动电路的方法 ,,,,,,,,可是古板的AFG基础功效智能天生脉宽稳固的脉冲串 ,,,,,,,,参数可调的脉冲串需要通过电脑软件编辑的方法来实现。。。。。泰克AFG31000完善的解决了上述的问题 ,,,,,,,,其开创性的在仪器上内嵌了双脉冲编辑器 ,,,,,,,,利便快捷的完成双脉冲参数设置和调解。。。。。

使用TIVP光隔离测试系统以及AFG31000助力SiC器件测试

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在完成驱动电压的双脉冲设置之后 ,,,,,,,,之后即是Vgs的丈量 ,,,,,,,,由于SiC单管高达800V的Vds电压 ,,,,,,,,导致上管保存很高的浮地电压。。。。。由于Gate电压往往在十几V左右 ,,,,,,,,因此对差分探头的共模抑制比提出了很高的要求。。。。。

 

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若 100 V 共模电压, 20 dB  (既10:1)共模抑制比    100MHz
100 V  除以10 à 10 V error
光隔离提供120dB(既1M:1)共模抑制比
100V除以1M à 100uV error

使用TIVP光隔离测试系统以及AFG31000助力SiC器件测试

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泰克 TIVP系列光隔离探头拥有卓越的共模抑制比 ,,,,,,,,高达160dB ,,,,,,,,纵然在100M的测试频率下依旧可以稳固在120dB ,,,,,,,,既1000000:1的误差。。。。。若以共模电压1000V举例 ,,,,,,,,其测试时引入的误差仅为1mV
输入电容<3pF
共模电压>±60KV
丈量规模至3.3KV(需添加对应衰减毗连器)

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TIVP探头与LeCroyDA1855A的共模抑制比比照

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几种常见的Vgs测试比照 ,,,,,,,,其中TPP1000为下管电压测试 ,,,,,,,,途中可以显着看出光隔离塔头的振铃以及畸变要小的多。。。。。
双脉冲测试 ,,,,,,,,除了要对Vgs ,,,,,,,,Vds电压考量外 ,,,,,,,,还需要对Ids举行考量。。。。。
关于以SiC以及GaN为衬底的三代半导体器件 ,,,,,,,,其di/dt可能会高达几十千A/us ,,,,,,,,对电流探头的带宽有了新的要求。。。。。由于其需要测试开关的整个动态响应历程 ,,,,,,,,要求电流探头需从DC起 ,,,,,,,,至丈量要求带宽。。。。。Shunt测试要领 ,,,,,,,,可以实现很高的测试带宽 ,,,,,,,,可是由于有较高的共模电压 ,,,,,,,,因此一致受制于共模抑制比 ,,,,,,,,泰克光隔离探头的泛起则完善的解决类似的问题。。。。。

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Shunt 与罗氏线圈测试比照

 

另外由于超高的开关速率 ,,,,,,,,体现在信号上既为更快的信号 ,,,,,,,,更高的带宽要求 ,,,,,,,,其对探头与DUT之间的毗连 ,,,,,,,,也有了更高的要求。。。。。

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古板毗连方法

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差别线缆长度对测试效果的影响

 

泰克光隔离探头使用MMCX接口毗连器 ,,,,,,,,能够降低毗连引入的噪声 ,,,,,,,,还原真实的丈量效果

 

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