Hitachi FT150系列 高性能X射线荧光镀层厚度丈量仪
可对一直微型化的电子部件镀膜厚度举行快速、清静的轻盈的丈量。。。。。。为了便于在样本室中使用并确认需要丈量的位置， ，，，，，，，该仪器还接纳了全新的设计。。。。。。
申请服务
使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容降生了。。。。。。另外， ，，，，，，，以X射线检测结构为中心， ，，，，，，，对种种元件举行优化， ，，，，，，，从而大幅提高了检测迅速度， ，，，，，，，在不损失检测精度的条件下实现了的高处置惩罚能力。。。。。。并且， ，，，，，，，对装备举行了重新设计， ，，，，，，，使得样本室的使用， ，，，，，，，以及对检测点的检查变得更为容易。。。。。。
X射线荧光镀层厚度丈量仪 FT150系列 专长
1．显微领域的高精度检测
通过接纳新开发的多毛细管， ，，，，，，，以及对探测器的优化， ，，，，，，，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm（设想FWHM： 17 μm）的基础上， ，，，，，，，进一步将处置惩罚能力提高到了2倍以上。。。。。。
2．产品阵容顺应种种检测样本
针对检测样本的差别种类， ，，，，，，，可在下列3种型号中举行选择。。。。。。
- 丈量引线架、毗连器等种种电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
- 能够处置惩罚尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
- 适合对陶瓷芯片电极部分中， ，，，，，，，已往难以同时丈量的Sn/Ni两层举行高能丈量的型号
3．兼顾易操作性与清静性
放大了启齿， ，，，，，，，同时样本室的门也可单手轻松开闭。。。。。。从而提高了取出、放入检测样本的操作轻盈性， ，，，，，，，并且该密封结构也大大镌汰了X射线走漏的危害， ，，，，，，，让用户定心使用。。。。。。
4．检测部位可见
通过设置大型视察窗、修改部件结构， ，，，，，，，使得样本室门在关闭状态下亦可利便地视察检测部位。。。。。。
5．清晰的样本图像
使用了区分率比以往更高的样本视察摄像头， ，，，，，，，接纳全数码变焦， ，，，，，，，从而消除位置误差， ，，，，，，，可以清晰地视察数十μm的细小样本。。。。。。
另外， ，，，，，，，亦接纳LED作为样本视察灯， ，，，，，，，无需像以往的机型那样对灯胆举行替换。。。。。。
6．新GUI
- 将种种检测要领、检测样本都以应用程序图标的形式举行了挂号。。。。。。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等， ，，，，，，，因此挂号、整理起来就很利便， ，，，，，，，从而使得用户可以不走弯路， ，，，，，，，直接举行检测。。。。。。
- 使用检测向导窗口来指导操作。。。。。。通过与检测画面联动， ，，，，，，，逐步指导用户执行目今所需举行的事情。。。。。。
X射线荧光镀层厚度丈量仪 FT150系列 规格
| 型号 | FT150（标准型） | FT150h（高能量型） | FT150L（大型线路板对应） |
|---|---|---|---|
| 丈量元素 | 原子序数13（Al）～92（U） | ||
| X射线源 | 管电压：45 kV | ||
| Mo靶 | W靶 | Mo靶 | |
| 检测器 | Si半导体检测器（SDD）（无需液氮） | ||
| X射线聚光 | 聚光导管方法 | ||
| 样品视察 | CCD摄像头（100万像素） | ||
| 对焦 | 激光对焦、自动对焦 | ||
| 最大样品尺寸 | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 600(W) × 600(D) × 20(H) mm |
| 事情台行程 | 400(W) × 300(D) mm | 400(W) × 300(D) mm | 300(W) × 300(D) mm |
| 操作系统 | 电脑、22英寸液晶显示屏 | ||
| 丈量软件 | 薄膜FP法（最多5层膜、10元素）、检量线法、定性剖析 | ||
| 数据处置惩罚 | Microsoft Excel、Microsoft Word 装置 | ||
| 清静功效 | 样品门联锁 | ||
| 消耗电量 | 300 VA以下 | ||
选购项
- 能谱匹配软件（质料区分）
- 块体FP（丈量金属因素比）
- 样品操作限制设置
- 晶圆治具（FT150／FT150h）
- 触摸板
- 信号灯
- 打印机
- 紧迫阻止开关箱
提问
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